鋁殼電阻公司指出，在鋁殼電阻的工作條件和環(huán)境條件下，導電膜層中的非晶結構趨于以恒定速率結晶。即導電材料的內部結構趨于精細，這往往會(huì )導致電阻降低，并且隨著(zhù)溫度的升高結晶速度加快。
鋁殼電阻高溫電負載老化：無(wú)論如何，電負載會(huì )加速鋁殼電阻老化的進(jìn)程，電負載由于溫度而加速鋁殼電阻老化的作用比加速更顯著(zhù)。原因是鋁殼電阻與帽蓋接觸部分的溫升超過(guò)了鋁殼電阻的平均溫升，溫度每升高10℃，壽命通常會(huì )縮短一半。如果鋁殼電阻在額定負載下因過(guò)載而溫度超過(guò)50℃，則鋁殼電阻的壽命將是正常壽命的1/32。不到 4 個(gè)月的加速壽命測試可以評估鋁殼電阻 10 年的運行穩定性。
氧化鋁殼電阻
鋁殼電阻直流負載電解：在直流負載下電解導致電阻劣化。槽內電阻槽發(fā)生電解，鋁殼電阻中所含的堿金屬離子在槽間電場(chǎng)中發(fā)生位移，產(chǎn)生離子電流。在水分存在的情況下，電解過(guò)程變得更加激烈。
壓縮鋁殼電阻
如果鋁殼電阻膜是碳膜或金屬膜，主要是電解氧化；如果電阻膜是金屬氧化膜，主要是電解還原。在高阻薄膜電阻中，由于電解作用，電阻值增大，沿凹槽螺旋側可能發(fā)生薄膜斷裂。通過(guò)在潮濕環(huán)境下進(jìn)行直流負載測試，可以評估電阻基材和薄膜層的所有抗氧化或抗還原性能，以及保護層的防潮性能。
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